RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range

Cuốn sách này nghiên cứu những biến dạng này dựa trên mô phỏng trường điện từ của mạch tích hợp kết hợp với các mô hình đầu dò RF đã sử dụng.

Tags: OER Thư viện ĐH Công nghiệp Hà Nội Tài liệu mở Điện tử - Viễn thông Radio frequency

» Artificial Neural Networks: Architectures and Applications (22/04/2025)

» From Overtourism to Sustainability Governance: A New Tourism Era (22/04/2025)

» Tourism and Heritage in the Chornobyl Exclusion Zone (22/04/2025)

» Making Presentation Math Computable: A Context-Sensitive Approach for Translating LaTeX to Computer Algebra Systems (22/04/2025)

» Emerging Microwave Technologies in Industrial, Agricultural, Medical and Food Processing (22/04/2025)

» Measurable Safety of Automated Driving Functions in Commercial Motor Vehicles (22/04/2025)

» Characterization and Emulation of Low-Voltage Power Line Channels for Narrowband and Broadband Communication (22/04/2025)

» Micro Nanolithography: A Heuristic Aspect on the Enduring Technology (22/04/2025)

» Nuclear Power: Operation, Safety and Environment (22/04/2025)

» Fundamental and Advanced Topics in Wind Power (22/04/2025)

GIỚI THIỆU SÁCH