Light Field Imaging for Deflectometry
Các phương pháp đo quang học ngày càng trở nên quan trọng đối với việc sản xuất các thành phần có độ chính xác cao và đảm bảo chất lượng. Nhu cầu ngày càng tăng có thể được đáp ứng bằng các hệ thống hình ảnh hiện đại với quang học tiên tiến, chẳng hạn như máy ảnh trường sáng. Công trình này khám phá việc sử dụng chúng trong phép đo độ lệch của các bề mặt phản chiếu. Công trình trình bày những cải tiến trong các kỹ thuật hiệu chuẩn và tách pha, cho phép độ chính xác tái tạo bề mặt cao chỉ bằng một máy ảnh trường sáng đơn.
Thứ Sáu, 14:49 05/09/2025
Copyright © 2018 Hanoi University of Industry.