Light Field Imaging for Deflectometry
Các phương pháp đo quang học ngày càng trở nên quan trọng đối với việc sản xuất các thành phần có độ chính xác cao và đảm bảo chất lượng. Nhu cầu ngày càng tăng có thể được đáp ứng bằng các hệ thống hình ảnh hiện đại với quang học tiên tiến, chẳng hạn như máy ảnh trường sáng. Công trình này khám phá việc sử dụng chúng trong phép đo độ lệch của các bề mặt phản chiếu. Công trình trình bày những cải tiến trong các kỹ thuật hiệu chuẩn và tách pha, cho phép độ chính xác tái tạo bề mặt cao chỉ bằng một máy ảnh trường sáng đơn.
Thứ Sáu, 14:49 05/09/2025
Hướng dẫn khai thác và sử dụng Thư viện Đại học Công nghiệp Hà Nội năm 2024
Thứ Ba, 14:33 17/09/2024PGS.TS Nguyễn Thị Hồng Nga, Giám đốc - Trung tâm Đào tạo Sau đại học trao tặng 02 đầu sách ngoại văn cho Trung tâm Thông tin - Thư viện
Thứ Sáu, 07:37 24/05/2024Truy cập hàng triệu sách điện tử miễn phí với The Online Books Page
Thứ Hai, 08:38 22/01/2024
Topological Obstructions to Stability and Stabilization: History, Recent Advances and Open Problems
Thứ Tư, 08:32 22/10/2025
Iota Reliability Concept of the Second Generation: Measures for Content Analysis Done by Humans or Artificial Intelligences
Thứ Tư, 08:26 22/10/2025
Innovative Models for Sustainable Development in Emerging African Countries
Thứ Sáu, 14:17 05/09/2025
Oceanography: Relationships of the Oceans with the Continents, Their Biodiversity and the Atmosphere
Thứ Sáu, 13:44 05/09/2025
The Business of Plant Breeding: Market led Approaches to Plant Variety Design in Africa
Thứ Sáu, 13:42 05/09/2025Copyright © 2018 Hanoi University of Industry.
