Contact related Failure Detection of Semiconductor Layer Stacks using an Acoustic Emission Test Method
Cuốn sách cung cấp cho người đọc một phương pháp kiểm tra mới, không phá hủy đối với các hư hỏng cơ học trong cấu trúc bán dẫn có thể phát sinh khi tiếp xúc với các miếng đệm kết nối của mạch tích hợp trong quá trình thăm dò ở cấp độ wafer. Thay vì các phân tích lỗi tốn thời gian và chi phí bằng các phương pháp quang học và điện, một phương pháp kiểm tra phát xạ âm thanh được trình bày, được điều chỉnh và tối ưu hóa cho trường hợp ứng dụng kiểm tra wafer.
Thứ Hai, 11:13 08/06/2026
Hướng dẫn khai thác và sử dụng Thư viện Đại học Công nghiệp Hà Nội năm 2024
Thứ Ba, 14:33 17/09/2024PGS.TS Nguyễn Thị Hồng Nga, Giám đốc - Trung tâm Đào tạo Sau đại học trao tặng 02 đầu sách ngoại văn cho Trung tâm Thông tin - Thư viện
Thứ Sáu, 07:37 24/05/2024Truy cập hàng triệu sách điện tử miễn phí với The Online Books Page
Thứ Hai, 08:38 22/01/2024
Epigenetic Modifications Associated with Abiotic and Biotic Stresses in Plants: An Implication for Understanding Plant Evolution
Thứ Ba, 16:07 09/06/2026
Language assessment in multilingual settings: Innovative practices across formal and informal environments
Thứ Hai, 09:02 08/06/2026
Remembering African Labor Migration to the Second World Socialist Mobilities between Angola, Mozambique, and East Germany
Thứ Hai, 08:26 08/06/2026
Crafting the Movement Identity Entrepreneurs in the Swedish Trade Union Movement, 1920–1940
Thứ Hai, 08:22 08/06/2026Copyright © 2018 Hanoi University of Industry.
